Titu M. Båjenescu, der in den 1990er Jahren für die damals von der AVD Goldach herausgegebene Fachzeitschrift "Telematikspektrum" die redaktionellen Verantwortung hatte, hat im gemeinsam mit M. I. Bâzu verfassten Buch “Component Reliability for Electronic Systems” die Zuverlässigkeit elektronischer Komponente untersucht.
Beginnend bei den klassischen diskreten Bauelementen (Widerständen, Kondensatoren, Signal-, Z-, Transzorb-, IMPATT-, Tunnel-, Gunn-Dioden, Klein- und Leistungstransistoren, Thyristoren, Triacs usw.) und endend bei den hochintegrierten Schaltungen (Halbleiter-Speichermodule, Mikroprozessoren, LEDs, Optokoppler, hybriden IS). Es werden aber auch Wandler-Module, Mikro- und Nano-Systeme behandelt. Die theoretischen Aspekte werden im ersten Teil des Buches nur kurz angesprochen. Dafür aber wird anschaulich und treffend jeweils die individuelle Fehlerphysik und Fehlermechanismen der verschiedenen Komponenten behandelt. Zahlreiche Prüfergebnisse, belegt durch Quellenangaben bis in die jüngste Zeit werden dargelegt. Die Veranschaulichung geschieht durch vielfältige Diagramme. Zahlreiche Tabellen bringen die Ergebnisse in Zahlen.
Das Buch behandelt anschaulich und praxisnah die Zuverlässigkeit aller elektronischer Komponenten. Das Buch ist gleichermassen für Jungingenieure wie für erfahrene Zuverlässigkeitsingenieure interessant.
T.-M. Båjenescu und M. I. Bâzu:
“Component Reliability for Electronic Systems”
Boston & London, Artech House, 2010; gebunden, 694 Seiten.
